金属・半導体用電気抵抗測定装置│アドバンス理工社製（TERシリーズ）製品紹介│三弘エマテック株式会社
- 金属・半導体用電気抵抗測定装置│アドバンス理工社製（TERシリーズ）製品紹介│三弘エマテック株式会社
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型式 TERシリーズ メーカー アドバンス理工㈱
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製品説明
TER-2000RH
温度範囲：室温～1400℃
測定方式：直流四端子法
測定範囲：100Ω～5X10⁻⁵Ω
試料寸法：φ10ｍｍX長100ｍｍ
測定雰囲気：不活性ガス中、大気中、真空中（オプション）
TER-2000L
温度範囲：-150℃～200℃
測定方式：直流四端子法
測定範囲：100Ω～5X10⁻⁵Ω
試料寸法：φ10ｍｍX長100ｍｍ
測定雰囲気：不活性ガス中、大気中、真空中（オプション）
※製品画像はメーカーより許可を得て掲載しています
※機器のスペック仕様は、各メーカーのカタログ掲載値を引用
特徴
●定速昇降温過程、定温保持過程での電気抵抗測定が可能
●直流四端子法で高精度測定が可能
●熱起電力の影響を受けない測定
●金属の相変態、時効析出、再結晶などの研究
●アモルファス金属の再結晶分析
●形状記憶合金の研究開発
●各種半導体材料の温度での電気抵抗の測定
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