金属・半導体用電気抵抗測定装置│アドバンス理工社製（TERシリーズ）

アドバンス理工社製の金属・半導体用電気抵抗測定装置（TERシリーズ）は、直流四端子法を用いて高精度に電気抵抗を測定できる装置です。温度範囲はモデルにより室温～1200℃（TER-2000RH）および－150℃～200℃（TER-2000L）で、不活性ガス、大気、真空中での測定が可能です。定速昇降温や定温保持過程での測定に対応し、熱起電力の影響を受けないため、金属の相変態や時効析出、再結晶、形状記憶合金の研究開発、各種半導体材料の温度依存抵抗測定に適しています。