特長
- 基板上に形成された20~1000nmの薄膜の厚さ方向の熱伝導率測定が可能
- サーモリフレクタンス法を用いた温度振幅検出による測定を実現
- 測定試料の前処理が容易
用途
- Low-K絶縁膜の熱抵抗を数値化し、半導体デバイスの熱設計に活用
- 絶縁膜の開発および放熱性の改良
- 熱電薄膜への応用評価
仕様
TCN-2ω | |
---|---|
測定温度 | RT |
試料寸法 | 幅10mm×長10~20mm×厚0.3~1mm(基板) |
測定雰囲気 | 真空中 |
特許・規格
熱物性測定方法(特許第5426115号)
電話によるお問い合わせ
※価格についてはお問い合わせください。
アドバンス理工社製の2ω法ナノ薄膜熱伝導率計(TCN-2ω)は、2ω法を用いて基板上に形成された20~1000nmのナノ薄膜の厚さ方向の熱伝導率を高精度かつ簡便に測定できる装置です。サーモリフレクタンス法による温度振幅検出を採用し、試料前処理も容易です。主にLow-K絶縁膜や熱電薄膜の開発・評価、半導体デバイスの熱設計などに利用され、真空中での測定に対応しています。
TCN-2ω | |
---|---|
測定温度 | RT |
試料寸法 | 幅10mm×長10~20mm×厚0.3~1mm(基板) |
測定雰囲気 | 真空中 |
熱物性測定方法(特許第5426115号)
熱分析/物性装置
熱分析/物性装置