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※機器のスペック仕様は、各メーカーのカタログ掲載値より引用
※製品画像はメーカーより許可を得て掲載しています

走査型オージェ電子分光分析装置│アルバック・ファイ社製(PHI 4800)

※価格についてはお問い合わせください。

PHI 4800(アルバック・ファイ社製)は、材料表面の元素組成や化学状態を高感度かつ高分解能で分析できる走査型オージェ電子分光分析装置です。サブミクロンレベルの微小領域や深さ方向の分析にも対応しており、材料開発や品質管理、故障解析など幅広い分野で表面・界面の詳細な評価に活用されています。

特長

最高感度の次世代オージェ

  • 従来比5倍の高感度オージェ
  • ハイスループット分析
  • 低損傷分析

微小部の化学状態分析

  • 化学状態マップ
  • 化学状態デプスプロファイル

絶縁物試料を容易に帯電中和

  • 低エネルギーイオンを用いた帯電中和

自動測定によるハイスループット分析

  • 多試料の自動測定分析
  • Windows®ソフトウェアによる容易な操作

仕様

PHI 4800
構成 装置本体 / 電気系本体 / コンピューター用テーブル
装置本体 重量 1155kg
電気系本体・テーブル 重量 480kg
搬入間口 幅120cm以上、高さ195cm以上
最小ビーム径 15nm@15kV
感度 2.5Mcps@10kV, 10nA, (⊿E/E:0.4%)
検出器 マルチチャンネル検出器(32チャンネル)
ステージ 5軸モータ制御
試料ホルダーサイズ φ25.4mm, φ60mm
イオン銃加速電圧 0~5kV可変
イオン銃ラスター範囲 最大4mm×4mm
到達圧力 6.7×10⁻⁸Pa以下

オプション

  • トランスファーベッセル
  • 6試料パーキング・冷却破断機構
  • イントロ高真空ゲージ
  • 背面反射電子検出器

この製品を導入した実績

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