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走査型オージェ電子分光分析装置│アルバック・ファイ社製(PHI 4800)製品紹介│三弘エマテック株式会社

走査型オージェ電子分光分析装置│アルバック・ファイ社製(PHI 4800)製品紹介│三弘エマテック株式会社
型式 PHI 4800
メーカー アルバック・ファイ㈱
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製品説明

設置要項

構成:装置本体/電気系本体/コンピューター用テーブル

装置本体 重量:1155kg

電気系本体、テーブル 重量:480kg

搬入間口:幅 120cm以上、高さ 195cm以上

 

性能

最小ビーム径:15nm@15kV

感度:2.5Mcos@10kV, 10nA, (⊿E/E:0.4%)

検出器:マルチチャンネル検出器(32チャンネル)

ステージ:5軸モータ制御

試料ホルダーサイズ:φ25.4mm, φ60mm

イオン銃加速電圧:0~5kV可変

イオン銃ラスター範囲:最大4mmX4mm

到達圧力:6.7X10⁻⁸Pa以下

 

オプション

トランスファーベッセル、6試料パーキング・冷却破断機構、イントロ高真空ゲージ、背面反射電子検出器など

 

※製品画像はメーカーより許可を得て掲載しています

※機器のスペック仕様は、各メーカーのカタログ掲載値を引用

特徴

最高感度の次世代オージェ

●従来比5倍の高感度オージェ

●ハイスループット分析

●低損傷分析

 

微小部の化学状態分析

●化学状態マップ

●化学状態デプスプロファイル

 

絶縁物試料を用意に帯電中和

●低エネルギーイオンを用いた帯電中和

 

自動測定によるハイスループット分析

●多試料の自動測定分析

●Windows®ソフトウェアによる容易な操作

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