電話によるお問い合わせ

電話をかける

製品一覧へ

※機器のスペック仕様は、各メーカーのカタログ掲載値より引用
※製品画像はメーカーより許可を得て掲載しています

走査型オージェ電子分光分析装置│アルバック・ファイ社製(PHI 710)

※価格についてはお問い合わせください。

PHI 710(アルバック・ファイ社製)は、8nm以下の空間分解能を保証する世界唯一の走査型オージェ電子分光分析装置です。電子顕微鏡(SEM)観察による高精度な位置特定と、同軸円筒鏡型アナライザー(CMA)による高感度・高スループット分析が特徴で、複雑な形状の試料や微小領域でも正確な元素分析・化学状態マッピングが可能です。また、各ピクセルごとにスペクトルを記録するスペクトルマップ取得機能を備え、ナノメートルレベルでの詳細な表面・界面分析に対応しています。

特長

電流値1nA(オージェ分析可能)でAES分解能≦8nm

SEM分解能≦3nm、AES分解能≦8nm

同軸円筒鏡型アナライザ(CMA)による高感度・高スループット分析

  • 同軸円筒鏡型アナライザ
  • 複雑な形状の試料に対応

AESによる化学状態マッピング

  • スペクトルマップ
  • 高エネルギー分解能オージェマップ

Windows®対応ソフトウェア

  • Smartsoft-AES(制御用ソフトウェア)
  • PHI MultiPak(データ解析ソフトウェア)

仕様

PHI 710
構成 装置本体 / 電気系本体 / コンピューター用テーブル
装置本体重量 1,100kg
電気系本体・テーブル重量 480kg
搬入間口 幅92cm以上、高さ194cm以上
電力 200-230V 単相 50A 50/60Hz 1系統
SEM像分解能(25kV) ≦3nm
AES空間分解能(20kV, 1nA) ≦8nm
感度 700kcps(CulM)@10kV, 10nA
SEM倍率 X45(加速電圧3kV)~X1,000,000mmまで可能
ステージ可動範囲 X,Y軸ともに±25mm
イオン銃加速電圧 0~5kV可変
イオン銃ラスター範囲 最大4mm×4mm
到達圧力 6.7×10⁻⁸Pa以下

オプション

  • 6試料パーキング
  • 試料冷却破断機構
  • EBSD
  • 反射電子検出器
  • イントロカメラ
  • イントロゲージ
  • トランスファーベッセル
  • サーモバルブ

この製品を導入した実績

見積もりフォーム

見積もり依頼をご希望の方は以下のフォームをご入力ください。

このフォームに入力するには、ブラウザーで JavaScript を有効にしてください。
具体的な製品名や型式・メーカー名が決まっている場合はご記入ください

このサイトはreCAPTCHAによって保護されておりGoogleのプライバシーポリシー利用規約が適用されます。