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※機器のスペック仕様は、各メーカーのカタログ掲載値より引用
※製品画像はメーカーより許可を得て掲載しています

3次元白色光干渉顕微鏡│ブルカージャパン社製(Contour X-200)

※価格についてはお問い合わせください。

表面テクスチャ計測にフレキシブルに対応 ベンチトップモデル 3次元白色光干渉型顕微鏡

Contour X-200

非破壊・非接触3次元光学式プロファイラー(3次元白色干渉型顕微鏡・表面形状粗さ計)ContourX-200は、高度な特性評価、カスタマイズ可能なオプション、使いやすさを完璧に融合させ、クラス最高の高速、高精度、再現性のある非接触3次元表面形状測定を実現します。ゲージ対応で設置スペースを選ばない小型のコンパクトサイズに加え、広域視野角(FOV)対応の 5メガピクセル(5MP)デジタルカメラと新型の電動XYステージにより、2D/3Dでの高分解能測定を実現しました。高いZ軸分解能と精度を可能にし、また、高い操作性能と解析機能を実現するソフトウェアVision64を搭載しています。ContourX-200は、従来の共焦点顕微鏡や一般的な光学式プロファイラーでは制限のある測定条件においても、ブルカー独自の白色光干渉法(WLI)技術により幅広い様々な業界にて、理想的な測定精度とパフォーマンスを提供します。

特長

  • コストパフォーマンスに優れた干渉顕微鏡のスタンダードモデル
  • 各種3D測定:表面形状(粗さ)、形状、段差
  • 圧倒的な高さ測定ダイナミックレンジ:0.1nm~10mm
  • クローズドループ制御により高い測定再現性を実現
  • 試料に合わせた測定モードを標準搭載
  • 2種類の高輝度LEDで反射率の異なる素材にも適応
  • 日本語対応ソフトで誰でも簡単に操作可能
  • 手動、電動のセットが選択可能
  • 豊富なオプション群から必要な機能を拡張可能
Contour X-200
測定方式 USI方式、VSI方式、PSI方式
垂直分解能 <0.01mm
段差再現性 <0.1%
使用光源 高輝度LED(白色・緑色)
最大測定速度 37μm/秒
最大測定レンジ 最大10mm
CCDカメラタイプ 標準型モノクロ 1200×1000画素、カラー(オプション)
XYステージサンプル 150mm×150mm電動
Zステージ 100mm電動
Zサンプルスペース 100mm
傾斜調整 ±6°手動
制御解析ソフトウェア(Vision64基本機能) 自動調整(光量、範囲)、2D解析、3D解析、マルチリージョン解析、オートフォーカス、スティッチング、ステージプログラム
オプション Vision64Map(高機能オフライン制御解析ソフトウェア)

オプション部品

タレット対応対物レンズ(Contour X-100/200)

  • 標準対物レンズ:2.5X5X10X20X50X115X
  • 光学ズームレンズ:0.55X0.75X1.5X2X

シングル対応対物レンズ(Contour X-100/200)

  • 対物レンズアダプタ
  • 低倍干渉対物レンズ:1.5X
  • 長作動干渉対物レンズ:2XLWD5XLWD10XLWD
  • 環境対応レンズ(TTM)レンズ:2XTTM5XTTM10XTTM20XTTM

装置のアップグレード

  • リアルカラーイメージングシステムの追加が可能です。
  • 干渉計測によって得られた高さ情報に加え、リアルカラー情報を同時に取得します。
  • 顕微鏡視野内で色の異なる表面の計測においてリアルカラーシステムは優れた性能を発揮します。

この製品を導入した実績

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