Contour X-200
非破壊・非接触3次元光学式プロファイラー(3次元白色干渉型顕微鏡・表面形状粗さ計)ContourX-200は、高度な特性評価、カスタマイズ可能なオプション、使いやすさを完璧に融合させ、クラス最高の高速、高精度、再現性のある非接触3次元表面形状測定を実現します。ゲージ対応で設置スペースを選ばない小型のコンパクトサイズに加え、広域視野角(FOV)対応の 5メガピクセル(5MP)デジタルカメラと新型の電動XYステージにより、2D/3Dでの高分解能測定を実現しました。高いZ軸分解能と精度を可能にし、また、高い操作性能と解析機能を実現するソフトウェアVision64を搭載しています。ContourX-200は、従来の共焦点顕微鏡や一般的な光学式プロファイラーでは制限のある測定条件においても、ブルカー独自の白色光干渉法(WLI)技術により幅広い様々な業界にて、理想的な測定精度とパフォーマンスを提供します。
特長
- コストパフォーマンスに優れた干渉顕微鏡のスタンダードモデル
- 各種3D測定:表面形状(粗さ)、形状、段差
- 圧倒的な高さ測定ダイナミックレンジ:0.1nm~10mm
- クローズドループ制御により高い測定再現性を実現
- 試料に合わせた測定モードを標準搭載
- 2種類の高輝度LEDで反射率の異なる素材にも適応
- 日本語対応ソフトで誰でも簡単に操作可能
- 手動、電動のセットが選択可能
- 豊富なオプション群から必要な機能を拡張可能
Contour X-200 | |
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測定方式 | USI方式、VSI方式、PSI方式 |
垂直分解能 | <0.01mm |
段差再現性 | <0.1% |
使用光源 | 高輝度LED(白色・緑色) |
最大測定速度 | 37μm/秒 |
最大測定レンジ | 最大10mm |
CCDカメラタイプ | 標準型モノクロ 1200×1000画素、カラー(オプション) |
XYステージサンプル | 150mm×150mm電動 |
Zステージ | 100mm電動 |
Zサンプルスペース | 100mm |
傾斜調整 | ±6°手動 |
制御解析ソフトウェア(Vision64基本機能) | 自動調整(光量、範囲)、2D解析、3D解析、マルチリージョン解析、オートフォーカス、スティッチング、ステージプログラム |
オプション | Vision64Map(高機能オフライン制御解析ソフトウェア) |
オプション部品
タレット対応対物レンズ(Contour X-100/200)
- 標準対物レンズ:2.5X、5X、10X、20X、50X、115X
- 光学ズームレンズ:0.55X、0.75X、1.5X、2X
シングル対応対物レンズ(Contour X-100/200)
- 対物レンズアダプタ
- 低倍干渉対物レンズ:1.5X
- 長作動干渉対物レンズ:2XLWD、5XLWD、10XLWD
- 環境対応レンズ(TTM型)レンズ:2XTTM、5XTTM、10XTTM、20XTTM
装置のアップグレード
- リアルカラーイメージングシステムの追加が可能です。
- 干渉計測によって得られた高さ情報に加え、リアルカラー情報を同時に取得します。
- 顕微鏡視野内で色の異なる表面の計測においてリアルカラーシステムは優れた性能を発揮します。